HTRB/HTGB高温反偏老化试验系统冷热冲击试验箱

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高温反偏老化试验系统(HTGB/HTRB/H3TRB)

  • 适用范围:适用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、轴向、径向等各种封装分立器件进行高温反偏试验:如各种二极管、三极管、场效应管、可控硅、桥堆等。
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高温反偏老化试验系统(HTGB/HTRB/H3TRB)适用范围:适用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、轴向、径向等各种封装分立器件进行高温反偏试验:如各种二极管、三极管、场效应管、可控硅、桥堆等。

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产品关键词:高温反偏老化试验箱,光电子器件老化系统,电容器高温老化系统,高温高湿偏置试验系统,光电耦合器专用设备,发光二极恒流高温电流寿命试验,大功率晶体管老化系统,IGBT模块功率循环试验系统,集成电路高温动态老化系统、DC/DC模块高温老化系统、三端稳压器高温寿命老化系统、高温反偏老化系统、HTRB、HTIR、H3TRB、分立器件综合老化系统、二极管恒流老化系统、二极管全动态老化系统、OPLIFE、功率循环、IGBT功率循环老化系统、LED老化系统、电容器高温老化系统、可控硅老化系统、老化板、老化测试座、试验电源 等等

  • 型号
    ESPEC GPR-03
  • 试验腔尺寸
    600*750*800(mm)
  • 风道设计
    竖向循环风道设计(老化板竖直插板)
  • 试验温度 / 湿度范围
    -20℃~+150℃ / 25~98%RH
  • 温度均匀性
    125℃±;3℃(空载); 试验温度波动度:±;0.5℃
  • 供水
    人工补水/自动补水
  • 容量

  • 独立试验区数量
    4-8个区
  • 试验通道
    4、8、16......
  • 单板工位数
    40 / 80工位(可选)
  • 整机容量
    640 / 1280工位(可选)
  • 试验电源

  • 试验电源数量
    4~8台
  • 试验电源量程
    Max1000V
  • 驱动检测板

  • 驱动板数量
    16块
  • 电压检测范围
    0.0V~1000.0V; 分辨率:1V; 精度:±;(1%+1LSB)
  • 漏电流检测范围
    0.0μA~A~50.0mA; 分辨率:0.1muA; 精度:±;(1%+1LSB)
  • 工位保护方式
    继电器保护 / 保险丝保护
  • 老化板

  • 基板材质
    耐150℃高温的H3TRB专用高绝缘底板,表面经过进口三防漆涂覆,确保高温高湿条件下使用寿命可达两年以上
  • 老化座
    老化座Socket均采用耐高温、抗氧化、耐疲劳材料
  • 老化板尺寸
    290*600(mm)
  • 整机信息

  • 尺寸
    1800W*1550D*2000H(mm)
  • 电网要求
    A.C.220V±;10% / 50Hz
  • 功率 / 重量
    10KW / 700kg
     
  •                                               高温反偏老化板

     
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